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Testing and Debugging Concurrency Bugs in Event-Driven Programs
보안공학연구지원센터(IJAST) International Journal of Advanced Science and Technology Vol.40 2012.03 pp.55-68
※ 원문제공기관과의 협약기간이 종료되어 열람이 제한될 수 있습니다.
Event-driven programs are prone to concurrency bugs due their inherent nature of handling asynchronous events. Asynchronous events introduce logical concurrency into these programs making them hard to be thoroughly tested and debugged. However, understanding the root causes and characteristics of concurrency bugs can ease the debugging process and help developers to avoid introducing them. Unfortunately, previous taxonomies on concurrency bugs do not provide enough knowledge on event-driven concurrency bugs. This paper classifies the event-driven program models into low and high level according to the type of events they handle, categorizes concurrency bug patterns and surveys existing techniques to detect them in event-driven programs.
이벤트 구동 방식 프로그램을 위한 동적 테스트 도구의 설계
[Kisti 연계] 한국정보과학회 한국정보과학회 학술대회논문집 2010 pp.566-570
※ 협약을 통해 무료로 제공되는 자료로, 원문이용 방식은 연계기관의 정책을 따르고 있습니다.
최근에는 스마트 폰의 저변이 확대되면서, 보안 취약성에 대한 많은 문제점이 새롭게 등장하고 있다. 스마트 폰 프로그램은 PC 환경에서 실행되는 프로그램과는 달리, 배포가 이루어진 이후에 소프트웨어 업데이트 등의 방법으로 보안 취약성을 제거하는 것이 매우 어려운 특징이 있다. 기존의 테스트 방법론은 스마트 폰의 특성에 대한 고려가 없기 때문에 스마트 폰을 위한 테스트 방법론과 함께 이를 위한 동적 테스트 도구에 대한 연구가 필요하다. 본 논문에서는 이벤트 구동 방식으로 동작하는 스마트 폰 프로그램의 특징을 고려한 동적 테스트 도구를 설계한다. 테스트 도구는 컴파일러 이론을 적용하여 체계적으로 설계 한다. 제안한 도구는 테스트 케이스 생성기와 테스팅 시스템으로 구성되며, 이벤트 구동 방식으로 동작하는 소프트웨어의 취약성 검출 자동화 도구로 활용할 수 있다.
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