Guy Martin Tchamgoue, Kyong-Hoon Kim, Yong-Kee Jun
언어
영어(ENG)
URL
https://www.earticle.net/Article/A206685
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원문정보
초록
영어
Event-driven programs are prone to concurrency bugs due their inherent nature of handling asynchronous events. Asynchronous events introduce logical concurrency into these programs making them hard to be thoroughly tested and debugged. However, understanding the root causes and characteristics of concurrency bugs can ease the debugging process and help developers to avoid introducing them. Unfortunately, previous taxonomies on concurrency bugs do not provide enough knowledge on event-driven concurrency bugs. This paper classifies the event-driven program models into low and high level according to the type of events they handle, categorizes concurrency bug patterns and surveys existing techniques to detect them in event-driven programs.
목차
Abstract 1. Introduction 2. Background 2.1. Events and Programs 2.2. Motivation 3. Concurrency Bug Classification 3.1. Data Races 3.2. Atomicity and Order Violations 3.3. Deadlocks 4. Debugging Event-Driven Programs 4.1. Detection Techniques 4.2. Correction Techniques 5. Conclusion Acknowledgement References
보안공학연구지원센터(IJAST) [Science & Engineering Research Support Center, Republic of Korea(IJAST)]
설립연도
2006
분야
공학>컴퓨터학
소개
1. 보안공학에 대한 각종 조사 및 연구
2. 보안공학에 대한 응용기술 연구 및 발표
3. 보안공학에 관한 각종 학술 발표회 및 전시회 개최
4. 보안공학 기술의 상호 협조 및 정보교환
5. 보안공학에 관한 표준화 사업 및 규격의 제정
6. 보안공학에 관한 산학연 협동의 증진
7. 국제적 학술 교류 및 기술 협력
8. 보안공학에 관한 논문지 발간
9. 기타 본 회 목적 달성에 필요한 사업
간행물
간행물명
International Journal of Advanced Science and Technology
간기
월간
pISSN
2005-4238
수록기간
2008~2016
십진분류
KDC 505DDC 605
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