Earticle

현재 위치 Home

State Transition Based Test Model and Test Case Generation Technique for Embedded System: An Empirical Approach

첫 페이지 보기
  • 발행기관
    보안공학연구지원센터(IJSEIA) 바로가기
  • 간행물
    International Journal of Software Engineering and Its Applications SCOPUS 바로가기
  • 통권
    Vol.10 No.11 (2016.11)바로가기
  • 페이지
    pp.233-254
  • 저자
    So-Young Jeong, Cheol-Jung Yoo, Hye-Min Noh
  • 언어
    영어(ENG)
  • URL
    https://www.earticle.net/Article/A292609

※ 원문제공기관과의 협약기간이 종료되어 열람이 제한될 수 있습니다.

원문정보

초록

영어
Studies on the testing techniques required during process of black box testing in embedded system have been increasing tremendously. This paper suggests test model and test case generation method for model based testing of embedded system. Considering the complicated internal architecture and real-time characteristics of embedded system, test cases are generated by using the state based behavior modeling method. The proposed state transition model based test case generation method suggests systematic procedures ranged from the use case specification to the test case generation. Entire procedure of test case generation in MP3 player case which uses the suggested method is presented in this paper. With the created test cases, the interaction among the components of embedded system can be easily figured out, thereby helping easy error detection. Moreover, the test cases applied with characteristics and constraints of embedded system could be achieved by modeling system behavior using SysML.

목차

Abstract
 1. Introduction
 2. Test Case Generation Technique Based on UML Diagram
 3. Test Case Generation Technique Based on State Transition Model
  3.1. Test Model Generation Based on State Transition
  3.2. Test Case Generation Based on State Transition Model
 4. Application
  4.1. Identifying Use Case
  4.2. Identifying Block
  4.3. Identifying State
  4.4. Generation of State Transition Diagram
  4.5. Test Case Generation
 5. Discussion
 6. Conclusion and Future Works
 References

키워드

Embedded System State Modeling State Transition Diagram Test Case Generation SysML

저자

  • So-Young Jeong [ Dept. of Software Engineering, Chonbuk National University ]
  • Cheol-Jung Yoo [ Dept. of Software Engineering, Chonbuk National University ] Corresponding Author
  • Hye-Min Noh [ Dept. of Software Engineering, Chonbuk National University ]

참고문헌

자료제공 : 네이버학술정보

간행물 정보

발행기관

  • 발행기관명
    보안공학연구지원센터(IJSEIA) [Science & Engineering Research Support Center, Republic of Korea(IJSEIA)]
  • 설립연도
    2006
  • 분야
    공학>컴퓨터학
  • 소개
    1. 보안공학에 대한 각종 조사 및 연구 2. 보안공학에 대한 응용기술 연구 및 발표 3. 보안공학에 관한 각종 학술 발표회 및 전시회 개최 4. 보안공학 기술의 상호 협조 및 정보교환 5. 보안공학에 관한 표준화 사업 및 규격의 제정 6. 보안공학에 관한 산학연 협동의 증진 7. 국제적 학술 교류 및 기술 협력 8. 보안공학에 관한 논문지 발간 9. 기타 본 회 목적 달성에 필요한 사업

간행물

  • 간행물명
    International Journal of Software Engineering and Its Applications
  • 간기
    월간
  • pISSN
    1738-9984
  • 수록기간
    2008~2016
  • 등재여부
    SCOPUS
  • 십진분류
    KDC 505 DDC 605

이 권호 내 다른 논문 / International Journal of Software Engineering and Its Applications Vol.10 No.11

    피인용수 : 0(자료제공 : 네이버학술정보)

    함께 이용한 논문 이 논문을 다운로드한 분들이 이용한 다른 논문입니다.

      페이지 저장