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The Research on the Effects of Electrical Aging on Trap Distribution in Polyethylene Doped with Nanoparticies

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  • 발행기관
    보안공학연구지원센터(IJCA) 바로가기
  • 간행물
    International Journal of Control and Automation SCOPUS 바로가기
  • 통권
    Vol.7 No.5 (2014.05)바로가기
  • 페이지
    pp.221-226
  • 저자
    Lijuan He, Shan Wang, Chao Zhu, Haiping Xie, Dawei Li, Chuntian Chen
  • 언어
    영어(ENG)
  • URL
    https://www.earticle.net/Article/A230004

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원문정보

초록

영어
The photo-stimulated discharge (PSD) technology was used to characterize the trap distribution of polyethylene (PE) and the PE that doped with 5% MgO before and after electrical aging. For the PE with the aging time increasing, the internal shallow trap of the material gradually reduced and deep trap gradually increased. But for the PE that doped with 5% MgO with the aging time increasing, shallow trap gradually increased and the deep trap gradually reduced. Results show that: during the electrical aging process the PE produces a large amount of free radicals which can introduce deep traps. Adding impurity of MgO can effectively restrain charge moving that injected from electrode, thus to improve the internal electric field distortion of PE.

목차

Abstract
 1. Introduction
 2. Experiment
  2.1. The PSD curve of unpolarized PE and that doped with 5% MgO
  2.2. The PSD test of PE with different aging time
  2.3 The PSD test of PE doped with 5% MgO with different aging time
 3. Results and Discussion
 4. Summary
 Acknowledgments
 Reference

키워드

polyethylene space charge the charge traps photo stimulated discharge

저자

  • Lijuan He [ Harbin University of Science and Technology, Harbin, 150080, P.R.China, State Key Laboratory Breeding Base of Dielectrics Engineering, Harbin University of Science and Technology, 150080, China ]
  • Shan Wang [ Harbin University of Science and Technology, Harbin, 150080, P.R.China, State Key Laboratory Breeding Base of Dielectrics Engineering, Harbin University of Science and Technology, 150080, China ]
  • Chao Zhu [ Harbin University of Science and Technology, Harbin, 150080, P.R.China, State Key Laboratory Breeding Base of Dielectrics Engineering, Harbin University of Science and Technology, 150080, China ]
  • Haiping Xie [ Harbin University of Science and Technology, Harbin, 150080, P.R.China, State Key Laboratory Breeding Base of Dielectrics Engineering, Harbin University of Science and Technology, 150080, China ]
  • Dawei Li [ Harbin University of Science and Technology, Harbin, 150080, P.R.China ]
  • Chuntian Chen [ Harbin University of Science and Technology, Harbin, 150080, P.R.China ]

참고문헌

자료제공 : 네이버학술정보

간행물 정보

발행기관

  • 발행기관명
    보안공학연구지원센터(IJCA) [Science & Engineering Research Support Center, Republic of Korea(IJCA)]
  • 설립연도
    2006
  • 분야
    공학>컴퓨터학
  • 소개
    1. 보안공학에 대한 각종 조사 및 연구 2. 보안공학에 대한 응용기술 연구 및 발표 3. 보안공학에 관한 각종 학술 발표회 및 전시회 개최 4. 보안공학 기술의 상호 협조 및 정보교환 5. 보안공학에 관한 표준화 사업 및 규격의 제정 6. 보안공학에 관한 산학연 협동의 증진 7. 국제적 학술 교류 및 기술 협력 8. 보안공학에 관한 논문지 발간 9. 기타 본 회 목적 달성에 필요한 사업

간행물

  • 간행물명
    International Journal of Control and Automation
  • 간기
    월간
  • pISSN
    2005-4297
  • 수록기간
    2008~2016
  • 십진분류
    KDC 505 DDC 605

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