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Session 9 : 품질경영 II, 좌장 : 최영태(경희대학교)

OLED display device의 Line Defect 시험법에 관한 연구
A Study on OLED display device's line defect test methode

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  • 발행기관
    대한안전경영과학회 바로가기
  • 간행물
    대한안전경영과학회 학술대회논문집 바로가기
  • 통권
    2009년도 대한안전경영과학회 춘계학술대회 (2009.04)바로가기
  • 페이지
    pp.523-529
  • 저자
    최영태, 조재립
  • 언어
    한국어(KOR)
  • URL
    https://www.earticle.net/Article/A158631

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원문정보

초록

영어
The ACF(Anisotropic Conductive Film) is used for bonding Drive IC and OLED display device panel. If ACF bonding process is problem, a malfunction of line defect can occur. Because electric resistance increase between the panel and drive IC after a period of time, drive IC can not supply enough current to the panel. This paper is studied on a method of test for line defect.

목차

Abstract
 1. 서론
  1.1 연구의 목적
  1.2 연구방법 및 범위
 2. 이론적 배경
  2.1 COG용 ACF
  2.2 OLED Display Device의 고장
  2.3 COG 본딩의 고장 모드/메카니즘
  2.4 고장 스트레스
 3. 실험방법
 4. 실험 결과 및 검증
 5. 결론
 6. 참고문헌

키워드

OLED Line defect ACF

저자

  • 최영태 [ Young-Tae Choi | 경희대학교 산업공학과 ]
  • 조재립 [ Jai-Rip Cho | 경희대학교 산업공학과 ]

참고문헌

자료제공 : 네이버학술정보

간행물 정보

발행기관

  • 발행기관명
    대한안전경영과학회 [Korea Safety Management & Science]
  • 설립연도
    1999
  • 분야
    공학>안전공학
  • 소개
    안전경영에 관한 학문과 기술을 발전,보급,응용하여 안전기술 및 관리기술의 진흥에 공헌하며, 재해예방을 통한 안전사회의 구현을 그 목적으로 함.

간행물

  • 간행물명
    대한안전경영과학회 학술대회논문집
  • 간기
    부정기
  • 수록기간
    1999~2022
  • 십진분류
    KDC 530 DDC 620

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