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SMT 공정의 주요 불량 검출을 위한 딥러닝 방법 연구
Study on Deep Learning Method for Major Defect Detection in SMT Process

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  • 발행기관
    한국디지털정책학회 바로가기
  • 간행물
    디지털정책학회지 KCI 등재후보 바로가기
  • 통권
    제5권 제3호 (2026.09)바로가기
  • 페이지
    pp.57-64
  • 저자
    김연지, 황선민, 김혜영, 이봉근, 송영윤
  • 언어
    한국어(KOR)
  • URL
    https://www.earticle.net/Article/A491957

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원문정보

초록

영어
This study aimed to develop deep learning-based defect detection models using YOLOv11 and RT-DETR and evaluate their applicability to defect inspection in the Surface Mounting Technology (SMT) process. Based on actual SMT process data, seven major defect types were defined, and a dataset was constructed using produced samples and inspection jig. Five YOLOv11 variants were compared, with YOLOv11-N demonstrating the best overall performance and being selected as the reference model. Comparison with RT-DETR showed that YOLOv11-N provided practical advantages in real-time processing and computational efficiency. Furthermore, optimization of data augmentation hyperparameters improved its detection performance to a level comparable to that of RT-DETR, confirming its potential for SMT defect detection considering accuracy, real-time performance, and computational efficiency. This study provides a practical foundation for field application through process-based defect definition and sample preparation; future research should validate the proposed approach in actual manufacturing environments.
한국어
본 연구는 SMT 공정의 주요 불량을 효과적으로 검출하기 위해 YOLOv11과 RT-DETR 기반 딥러닝 모델을 구현하고, 모델 간 성능 비교를 통해 SMT 불량검출의 현장 적용 가능성을 평가하고자 하였다. 이를 위해 실제 SMT 공정데이터를 기반으로 7종의 주요 불량 유형을 정의하고 전용 검사 지그 및 검사 시료를 제작하여 모델 학습 및 평가용 데이터셋을 구축하였다. YOLOv11의 5개 모델을 비교한 결과, YOLOv11-N이 가장 우수하여 기준 모델로 선정되었다. RT-DETR과의 비교에서는 YOLOv11-N이 실시간 처리와 연산 효율성에서 높은 실용성을 보였으며, 데이터 증강 하이퍼 파라미터 튜닝을 통해 검출 성능이 향상되어 RT-DETR과 대등한 수준을 확보하였다. 이를 통해 정확도와 실시간성, 연산효율성을 고려한 YOLOv11-N의 SMT 불량 검출 적용 가능성을 확인하였다. 본 연구는 실제 공정 기반의 불량 정의와 시료 제작을 통해 현장 적용 기반을 제시하였으며, 향후 실제 제조 현장에서의 적용 및 검증이 요구된다.

목차

요약
Abstract
1. 서론
1.1 연구의 배경 및 필요성
1.2 연구 목적 및 범위
2. 관련 연구
2.1 객체 인식(YOLO)을 이용한 SMT 불량 검출 연구
3. 연구 방법 및 내용
3.1 데이터셋 구축
3.2 불량 검출 모델 구현 및 학습
3.3 성능 평가
4. 향후 연구방향
4.1 실제 SMT 생산 라인에의 적용
4.2 오탐지에 대한 추가 분석 및 연구
5. 결론
REFERENCES

저자

  • 김연지 [ Yeon-ji Kim | 주식회사 비즈포스 임직원 ]
  • 황선민 [ Seon-min Hwang | 주식회사 비즈포스 임직원 ] Corresponding Author
  • 김혜영 [ Hye-young Kim | 주식회사 비즈포스 임직원 ]
  • 이봉근 [ Bong-Geun Lee | 주성SMT 대표 ]
  • 송영윤 [ Young-Yoon Song | 주식회사 씨엔오테크 대표 ]

참고문헌

자료제공 : 네이버학술정보

간행물 정보

발행기관

  • 발행기관명
    한국디지털정책학회 [The Society of Digital Policy & Management]
  • 설립연도
    2003
  • 분야
    복합학>과학기술학
  • 소개
    디지털기술 및 산업정책, 디지털경제, 관련 산업의 연구, 전자정부, 디지털정치에 관한 제도적, 정책적 연구, 디지털경영, 전자상거래, e-비즈니스에 관한 실용적 연구, 학술연구지 발간 및 학술대회 개최 등을 통하여 디지털경제 및 디지털경영에 관련되는 국가정책 분야의 연구 및 교류를 촉진하고 국가 및 기업 정보화와 디지털산업의 발전에 공헌한다.

간행물

  • 간행물명
    디지털정책학회지
  • 간기
    월간
  • eISSN
    2951-245X
  • 수록기간
    2022~2026
  • 등재여부
    KCI 등재후보
  • 십진분류
    KDC 569 DDC 620

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