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SESSION 7 : ICT융합기술 IV, 정보통신기술 II, 좌장 : 김영일(ICT폴리텍대학)

제조 공정 외형 품질검사를 위한 딥러닝 기반 결함 탐지 기법 연구
A Study on Deep Learning based Defect Detection Technique for Automatic Inspection in Manufacturing

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  • 발행기관
    한국정보통신설비학회 바로가기
  • 간행물
    한국정보통신설비학회 학술대회 바로가기
  • 통권
    2017년도 정보통신설비 학술대회 (2017.08)바로가기
  • 페이지
    pp.134-136
  • 저자
    이승우, 권영민
  • 언어
    한국어(KOR)
  • URL
    https://www.earticle.net/Article/A309614

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원문정보

목차

Abstract
 I. 서론
 II. 머신 비젼 관련 기술
  1. 특징점 매칭 기반
  2. 차영상 기반 불량 탐지
 III. 답러닝 기반 결함 검출 기법
  1. 학습 데이터 생성
  2. 신경망 학습 및 결함 판별 시스템
  3. 온라인 기반 재학습을 통한 최적화
 IV. 결론
 감사의 글
 참고문헌

키워드

AOI Defect Detection Deep Learning Neural Network Optical Inspection

저자

  • 이승우 [ Seung-Woo Lee | 전자부품연구원 ] 교신저자
  • 권영민 [ Young-Min Kwon | 전자부품연구원 RFID/USN 융합연구센터 선임연구원 ]

참고문헌

자료제공 : 네이버학술정보

간행물 정보

발행기관

  • 발행기관명
    한국정보통신설비학회 [Korea Institute of Information & Telecommunication Facilities Engineering]
  • 설립연도
    2001
  • 분야
    공학>전자/정보통신공학
  • 소개
    한국 정보통신 시설 및 설비에 대한 대학, 연구기관, 공공기관, 산업체 등의 관련자들의 연구활동을 통하여 학문적, 이론적 체계 확립과 구현 기술의 보편화를 이룩함으로써 한국 정보통신산업의 발전에 기여하고, 회원 상호간 학문적 발전의 도모를 목적으로 한다.

간행물

  • 간행물명
    한국정보통신설비학회 학술대회
  • 간기
    반년간
  • 수록기간
    2002~2025
  • 십진분류
    KDC 567 DDC 621

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