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Real-time Fault Detection in Semiconductor Manufacturing Process : Research with Jade Solution Company

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  • 발행기관
    국제인공지능학회(구 한국인터넷방송통신학회) 바로가기
  • 간행물
    International Journal of Internet, Broadcasting and Communication KCI 등재후보 바로가기
  • 통권
    Vol.9 No.2 (2017.05)바로가기
  • 페이지
    pp.20-26
  • 저자
    Byung Joo Kim
  • 언어
    영어(ENG)
  • URL
    https://www.earticle.net/Article/A303600

※ 원문제공기관과의 협약기간이 종료되어 열람이 제한될 수 있습니다.

원문정보

목차

Abstract
 1. Introduction
 2. Incremental PCA
  2.1 Updating Image Representations
  2.2 Empirical Feature Map
 3. Conjugate LS-SVM
 4. Experiment
  4.1 Comparison with SVM
 5. Conclusion and Remarks
 Acknowledgement
 References

키워드

Semiconductor manufacturing process Conjugate least squares support vector machine real-time

저자

  • Byung Joo Kim [ Department of Computer Engineering, Youngsan University, Korea ]

참고문헌

자료제공 : 네이버학술정보

간행물 정보

발행기관

  • 발행기관명
    국제인공지능학회(구 한국인터넷방송통신학회) [The International Association for Artificial Intelligence]
  • 설립연도
    2000
  • 분야
    공학>전자/정보통신공학
  • 소개
    인터넷방송, 인터넷 TV , 방송 통신 네트워크 및 관련 분야에 대한 국내는 물론 국제적인 학술, 기술의 진흥발전에 공헌하고 지식 정보화 사회에 기여하고자 한다.

간행물

  • 간행물명
    International Journal of Internet, Broadcasting and Communication
  • 간기
    계간
  • pISSN
    2288-4920
  • eISSN
    2288-4939
  • 수록기간
    2009~2025
  • 십진분류
    KDC 326 DDC 380

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