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The Dynamic Pattern Test Method for ASIC’s Fault Detection
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- 보안공학연구지원센터(IJCA) 바로가기
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- 간행물
- International Journal of Control and Automation SCOPUS 바로가기
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- 통권
- Vol.9 No.12 (2016.12)바로가기
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- 페이지
- pp.261-274
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- 저자
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- 언어
- 영어(ENG)
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- URL
- https://www.earticle.net/Article/A295212
※ 원문제공기관과의 협약기간이 종료되어 열람이 제한될 수 있습니다.
원문정보
초록
- 영어
- The ASIC for control of the digital signal is progressing in the development of the avionics of the aircraft. In addition, the proportion used the ASIC in the industries is increasing continuously. However, it occurs the difficult problems of the maintenance of ASIC fault due to the maintenance company’s bankrupt, equipment’s aging, test equipment exchange and test requirement document’s absence in the case of avionics systems. Therefor it will be expensive repair costs. To solve these problems, we proposed the method to testing the analog board with ASIC and without the TRD. In this paper, we proposed the Dynamic Pattern test method which created the TRD based on analyzed logic data extracted from ASIC and diagnosed on the ASIC circuits at the point of level of gate. We could identify the 17 pattern from tests, and figure out faults in 16 addresses. According to the experiment for target board applied with proposed methods, it is possible to diagnose fault for abnormal computerized chip, ASIC, by utilizing test unit board. We’ve also obtained the excellent performance for fault detection.
목차
Abstract
1. Introduction
2. Conventional Fault Detection Method
2.1. Typical ASIC Test
2.2. BIST (Built in Self-Test)
2.3. LASAR
2.4. Dynamic Pattern Test
3. Dynamic Pattern Test Method for Fault Detection
3.1. System Concept
3.2. ASIC Logic Data Extraction and Analysis
3.3. Test Requirement Document (TRD) Production
3.4. ITA (Interface Test Adapter)
3.5. Dynamic Pattern Signal Implementation
3.6. Validation & Verification
4. Experiment Results
5. Conclusion and Future Works
References
키워드
TRD Test Request Document Dynamic Pattern Test ATE Automatic Test Equipment Fault Detection ASIC Application Specific Integrated Circuit저자
간행물 정보
발행기관
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- 발행기관명
- 보안공학연구지원센터(IJCA) [Science & Engineering Research Support Center, Republic of Korea(IJCA)]
- 설립연도
- 2006
- 분야
- 공학>컴퓨터학
- 소개
- 1. 보안공학에 대한 각종 조사 및 연구 2. 보안공학에 대한 응용기술 연구 및 발표 3. 보안공학에 관한 각종 학술 발표회 및 전시회 개최 4. 보안공학 기술의 상호 협조 및 정보교환 5. 보안공학에 관한 표준화 사업 및 규격의 제정 6. 보안공학에 관한 산학연 협동의 증진 7. 국제적 학술 교류 및 기술 협력 8. 보안공학에 관한 논문지 발간 9. 기타 본 회 목적 달성에 필요한 사업
간행물
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- 간행물명
- International Journal of Control and Automation
- 간기
- 월간
- pISSN
- 2005-4297
- 수록기간
- 2008~2016
- 십진분류
- KDC 505 DDC 605
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