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Automatic Test Case Generation and Optimization Strategies based on Components with Sequential Constraints

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  • 발행기관
    보안공학연구지원센터(IJCA) 바로가기
  • 간행물
    International Journal of Control and Automation SCOPUS 바로가기
  • 통권
    Vol.9 No.12 (2016.12)바로가기
  • 페이지
    pp.35-50
  • 저자
    Shiwei Gao, Jianghua Lv, Fan Yang, Jiaqi Xie, Shilong Ma
  • 언어
    영어(ENG)
  • URL
    https://www.earticle.net/Article/A294938

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원문정보

초록

영어
Combinatorial testing has been proved to be an efficient strategy in software testing. The research on automatic test case generation for system level based on components with constraints is a challenging but significant problem by using combinatorial testing. This paper focuses on the test case generation for system level based on components with sequential constraints. There are three main contributions: 1) the new test case generation strategy for system level is proposed based on IPOG (In-Parameter-Order-General) algorithm; 2) a filling strategy for don’t care positions is given to enhance the higher strength coverage for system level, which can improve the quality of the generated test suite; 3) a randomized post-optimization algorithm is applied to reduce the size of the test suite for system level. Experimental results show that the proposed filling strategy can improve the quality of the covering array, the post-optimization algorithm has a good optimization effect on reducing the size of the array, and trades off better between the size of the covering array and computational time than simulated annealing (SA).

목차

Abstract
 1. Introduction
 2. Related Work
 3. Problem Definition and Analysis
  3.1. Problem Definitions
  3.2. Problem Analysis
 4. Our Method
  4.1. Constructing Covering Array for System Level
  4.2. Constructing Covering Array for Component Level
  4.3. Filling Strategy
 5. Optimization Strategy
  5.1. Randomized Post-Optimization Algorithm
  5.2. Refining the Mixed Covering Array for System Level
 6. Experiment Analysis
  6.1. Coverage Rate
  6.2. Size of Test Cases
  6.3. Comparison with Simulated Annealing
 7. Conclusion
 References

키워드

Combinatorial testing Software testing Automatic test case Generation IPOG Randomized post-optimization

저자

  • Shiwei Gao [ State Key Laboratory of Software Development Environment, Beihang University, Beijing, China ]
  • Jianghua Lv [ State Key Laboratory of Software Development Environment, Beihang University, Beijing, China ]
  • Fan Yang [ State Key Laboratory of Software Development Environment, Beihang University, Beijing, China ]
  • Jiaqi Xie [ State Key Laboratory of Software Development Environment, Beihang University, Beijing, China ]
  • Shilong Ma [ State Key Laboratory of Software Development Environment, Beihang University, Beijing, China ]

참고문헌

자료제공 : 네이버학술정보

간행물 정보

발행기관

  • 발행기관명
    보안공학연구지원센터(IJCA) [Science & Engineering Research Support Center, Republic of Korea(IJCA)]
  • 설립연도
    2006
  • 분야
    공학>컴퓨터학
  • 소개
    1. 보안공학에 대한 각종 조사 및 연구 2. 보안공학에 대한 응용기술 연구 및 발표 3. 보안공학에 관한 각종 학술 발표회 및 전시회 개최 4. 보안공학 기술의 상호 협조 및 정보교환 5. 보안공학에 관한 표준화 사업 및 규격의 제정 6. 보안공학에 관한 산학연 협동의 증진 7. 국제적 학술 교류 및 기술 협력 8. 보안공학에 관한 논문지 발간 9. 기타 본 회 목적 달성에 필요한 사업

간행물

  • 간행물명
    International Journal of Control and Automation
  • 간기
    월간
  • pISSN
    2005-4297
  • 수록기간
    2008~2016
  • 십진분류
    KDC 505 DDC 605

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