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Study on IGBT Module Aging and Automatic Test Systems

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  • 발행기관
    보안공학연구지원센터(IJCA) 바로가기
  • 간행물
    International Journal of Control and Automation SCOPUS 바로가기
  • 통권
    Vol.9 No.12 (2016.12)바로가기
  • 페이지
    pp.23-34
  • 저자
    Yaping Li, Luowei Zhou, Xiong Du, Xiong Du, Pengju Sun, Junke Wu
  • 언어
    영어(ENG)
  • URL
    https://www.earticle.net/Article/A294937

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원문정보

초록

영어
A set of accelerated aging and automatic test system for IGBT modules is designed in this paper, including platforms of accelerated aging and parameter automatic test. Aging test platform is controlled by IPC, using DC power cycling methods and water cooling to heat dissipation. Combined with LabVIEW and high-speed digitizers, single pulse switch testing is achieved in automatic test platform through hardware circuit. In different stages of the IGBT module aging tests, change trend of each electrical parameters were measured under different working point. Collector-emitter conduction voltage drop VCE(sat), gate-emitter threshold voltage VGE(th), turn-off time toff, the current and voltage waveform during turn-on and turn-off are measured. The relationship between these electrical parameters and aging degree of the IGBT module is researched. It would be able to characterize the device and seek out external indicators of fatigue aging, reliable evidences for state assessment. Compared with the traditional manual testing methods, the automatic test system has characters: high accuracy, test speed, short development cycle and so on.

목차

Abstract
 1. Introduction
 2. IGBT Module Aging and Automaticl Test Platform
  2.1. IGBT Module and Failure Mechanisms
  2.2. Design of the Aging Test Platform
  2.3. Design of the Automatic Test System
 3. Analysis of Experimental Results
 4. Conclusion
 References

키워드

IGBT module Aging failure Accelerated aging test Power Cycling External indicators

저자

  • Yaping Li [ State Key Laboratory of Power Transmission Equipment & System Security and New Technology Chongqing University, China / College of Mechanical and Electronical Engineering, Shihezi University, Shihezi China ]
  • Luowei Zhou [ State Key Laboratory of Power Transmission Equipment & System Security and New Technology Chongqing University, China ]
  • Xiong Du [ State Key Laboratory of Power Transmission Equipment & System Security and New Technology Chongqing University, China ]
  • Xiong Du [ State Key Laboratory of Power Transmission Equipment & System Security and New Technology Chongqing University, China ]
  • Pengju Sun [ State Key Laboratory of Power Transmission Equipment & System Security and New Technology Chongqing University, China ]
  • Junke Wu [ State Key Laboratory of Power Transmission Equipment & System Security and New Technology Chongqing University, China ]

참고문헌

자료제공 : 네이버학술정보

간행물 정보

발행기관

  • 발행기관명
    보안공학연구지원센터(IJCA) [Science & Engineering Research Support Center, Republic of Korea(IJCA)]
  • 설립연도
    2006
  • 분야
    공학>컴퓨터학
  • 소개
    1. 보안공학에 대한 각종 조사 및 연구 2. 보안공학에 대한 응용기술 연구 및 발표 3. 보안공학에 관한 각종 학술 발표회 및 전시회 개최 4. 보안공학 기술의 상호 협조 및 정보교환 5. 보안공학에 관한 표준화 사업 및 규격의 제정 6. 보안공학에 관한 산학연 협동의 증진 7. 국제적 학술 교류 및 기술 협력 8. 보안공학에 관한 논문지 발간 9. 기타 본 회 목적 달성에 필요한 사업

간행물

  • 간행물명
    International Journal of Control and Automation
  • 간기
    월간
  • pISSN
    2005-4297
  • 수록기간
    2008~2016
  • 십진분류
    KDC 505 DDC 605

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