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Empirical Wavelet Transform Based Approach for Extraction of Fundamental Component and Estimation of Time-Varying Power Quality Indices in Power Quality Disturbances

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  • 발행기관
    보안공학연구지원센터(IJSIP) 바로가기
  • 간행물
    International Journal of Signal Processing, Image Processing and Pattern Recognition 바로가기
  • 통권
    Vol.9 No.11 (2016.11)바로가기
  • 페이지
    pp.161-180
  • 저자
    G. Ravi Shankar Reddy, Dr.Rameshwar Rao
  • 언어
    영어(ENG)
  • URL
    https://www.earticle.net/Article/A292865

※ 원문제공기관과의 협약기간이 종료되어 열람이 제한될 수 있습니다.

원문정보

초록

영어
In this paper Application of an Empirical Wavelet Transform based technique is proposed to estimate time-varying PQ indices for accurate assessment of Power Quality Disturbances. The EWT approach mainly aims to extract the actual fundamental frequency component and disturbance components from any distorted signal. The empirical wavelet transform consists of two major steps: detect the Fourier supports, and build the corresponding wavelet accordingly to those supports; filter the input signal with the obtained filter bank to get the fundamental component and disturbance components. Since the extracted components contain only one frequency component, Hilbert transform is utilized to estimate the instantaneous frequency and amplitude information, from this information we can estimate time-varying PQ indices. The proposed method is employed to assess successfully all sorts of Power Quality Disturbances such as voltage sag, swell, interruption, transients, harmonics, spikes, notches etc. From the results we can say that the proposed method detects disturbance start time, end time, duration of existence and its content more accurately.

목차

Abstract
 1. Introduction
 2. Empirical Wavelet Transform
 3. Hilbert Transform
 4. Time-Varying Power Quality Indices
  4.1. Instantaneous Root Mean Square (iRMS)
  4.2. Instantaneous Fundamental Amplitude (iFA)
  4.3. Instantaneous Frequency Variation (iFV)
  4.4. Instantaneous Total Harmonic Distortion (iTHD)
  4.5. Instantaneous Normalized Distortion Energy Index (iNDEI)
  4.6. Instantaneous K-Factor (iKF)
  4.7. Instantaneous Form Factor (iFF)
 5. Results and Discussion
  5.1. Sag PQD Event
  5.2. Swell PQD Event
  5.3. Interruption
  5.4. Flicker
  5.5. Oscillatory Transient PQD Event
  5.6. Harmonic PQD Event
  5.7. Sag+Harmonics
  5.8. Swell+Harmonics Wave
  5.9. Notch PQD Event
  5.10. Spike PQD Event
 6. Conclusions
 References

키워드

Empirical Wavelet Transform time-varying Power Quality Indices Power Quality Disturbances fundamental frequency Component Fourier supports Filter bank

저자

  • G. Ravi Shankar Reddy [ Dept.of ECE, CVRCollege of Engineering, Hyderabad, India ]
  • Dr.Rameshwar Rao [ Ex-Vice Chancellor, JNT University, Hyderabad, India ]

참고문헌

자료제공 : 네이버학술정보

간행물 정보

발행기관

  • 발행기관명
    보안공학연구지원센터(IJSIP) [Science & Engineering Research Support Center, Republic of Korea(IJSIP)]
  • 설립연도
    2006
  • 분야
    공학>컴퓨터학
  • 소개
    1. 보안공학에 대한 각종 조사 및 연구 2. 보안공학에 대한 응용기술 연구 및 발표 3. 보안공학에 관한 각종 학술 발표회 및 전시회 개최 4. 보안공학 기술의 상호 협조 및 정보교환 5. 보안공학에 관한 표준화 사업 및 규격의 제정 6. 보안공학에 관한 산학연 협동의 증진 7. 국제적 학술 교류 및 기술 협력 8. 보안공학에 관한 논문지 발간 9. 기타 본 회 목적 달성에 필요한 사업

간행물

  • 간행물명
    International Journal of Signal Processing, Image Processing and Pattern Recognition
  • 간기
    격월간
  • pISSN
    2005-4254
  • 수록기간
    2008~2016
  • 십진분류
    KDC 505 DDC 605

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