Nowadays many different types of chips are used virtually everywhere in the real world. Sometimes, it is necessary to ensure that a certain chip meets specific requirements. For this reason, it is essential to examine various properties of chips; one of those can be, e.g., the chip security with respect to its physical structure. This paper contains an overview of methods for processing of chips – concretely: chip decapsulation, chip deprocessing, scanning of layers, microscopic analysis and image data analysis.
목차
Abstract 1. Introduction 2. Obtaining Chips 2.1. Extraction from Plastic Cards 3. Chip Decapsulation 3.1 Chemical Approach 3.2 Grinding and Polishing 3.3 Decapsulation in Practice 4. Chip Delayering 4.1 Deprocessing of Common Layers 4.2 Deprocessing in Practice 5. Scanning of the Chips 5.1. Scanning with Optical Microscope 5.2. Scanning with Electron Microscope 6. Software for Analysis 6.1. Implementation Details 6.2. Threshold 6.3. Edge Analysis 6.4. Color Analysis 7. Conclusion References
보안공학연구지원센터(IJSIA) [Science & Engineering Research Support Center, Republic of Korea(IJSIA)]
설립연도
2006
분야
공학>컴퓨터학
소개
1. 보안공학에 대한 각종 조사 및 연구
2. 보안공학에 대한 응용기술 연구 및 발표
3. 보안공학에 관한 각종 학술 발표회 및 전시회 개최
4. 보안공학 기술의 상호 협조 및 정보교환
5. 보안공학에 관한 표준화 사업 및 규격의 제정
6. 보안공학에 관한 산학연 협동의 증진
7. 국제적 학술 교류 및 기술 협력
8. 보안공학에 관한 논문지 발간
9. 기타 본 회 목적 달성에 필요한 사업
간행물
간행물명
International Journal of Security and Its Applications
간기
격월간
pISSN
1738-9976
수록기간
2008~2016
등재여부
SCOPUS
십진분류
KDC 505DDC 605
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