This paper considers the issue of high power dissipation in test mode, and puts forward a novel technique based on the reordering of test vectors. This approach considers both the circuit structure and test set. The proposed approach uses a weight to quantify the relationship between the switching of each input and the internal switching activity, then reorder test set based on these weights. Results of experiments show reductions of the switching activity ranging from 17.06% to 69.22% during external test application.
목차
Abstract 1. Introduction 2. Consumption Model 3. Determining the Influence Coefficient 3.1. Relationship Between the Circuit Structure and Circuit State Changes 3.2 The Relationship between Tests Set and Circuit Status Changes. 3.3. Determine the Influence Coefficient Which Input Impact on the Circuit Status Change 4. Optimizing the Test sSet Order 5. Experimental Results 6. Conclusion References
키워드
power consumptionTest vector orderingweighted hamming distance
저자
Shuanghua Huang [ Navy University of Engineering, Wuhan 430033, China ]
Xiaomin Li [ Navy University of Engineering, Wuhan 430033, China ]
보안공학연구지원센터(IJSH) [Science & Engineering Research Support Center, Republic of Korea(IJSH)]
설립연도
2006
분야
공학>컴퓨터학
소개
1. 보안공학에 대한 각종 조사 및 연구
2. 보안공학에 대한 응용기술 연구 및 발표
3. 보안공학에 관한 각종 학술 발표회 및 전시회 개최
4. 보안공학 기술의 상호 협조 및 정보교환
5. 보안공학에 관한 표준화 사업 및 규격의 제정
6. 보안공학에 관한 산학연 협동의 증진
7. 국제적 학술 교류 및 기술 협력
8. 보안공학에 관한 논문지 발간
9. 기타 본 회 목적 달성에 필요한 사업
간행물
간행물명
International Journal of Smart Home
간기
격월간
pISSN
1975-4094
수록기간
2008~2016
십진분류
KDC 505DDC 605
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