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Light Fades and Life Prediction of LED Light Source

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  • 발행기관
    보안공학연구지원센터(IJSH) 바로가기
  • 간행물
    International Journal of Smart Home 바로가기
  • 통권
    Vol.9 No.11 (2015.11)바로가기
  • 페이지
    pp.225-234
  • 저자
    Hong-min Wang, Jin-shan Yao, Pin Xue
  • 언어
    영어(ENG)
  • URL
    https://www.earticle.net/Article/A269565

※ 원문제공기관과의 협약기간이 종료되어 열람이 제한될 수 있습니다.

원문정보

초록

영어
The life is the most representative parameter in the parameters of LED reliability. But the impact factor of the LED lifetime are numerous and complicated, each factor of the influence degree of each are not identical. If according to the traditional light source life test method, then the cycle is too long to not led update speed. And the majority of the LED accelerated life test by means of increasing the should force experiments to estimate the life of the LED light source, this kind of test is usually elevated led where the ambient temperature or increasing the current through the LED itself. Finally, through the acquisition of data and analysis to predict the service life of LED light source, but did not direct theoretical foundation to justify force and the service life of LED light source specific equivalent relation. Therefore, the accuracy of accelerated stress measured the service life of LED light source is yet to be verified. Through the analysis of the change of the life of LED is a gradient of chemical reaction, with the Arrhenius model, led the life of the weakening is through changes in the flux to the lumen, and for that we can under the normal working condition analysis of LED light attenuation mechanism and rules, the prediction from but realize life led to predict led by degradation of cause and the change of life.

목차

Abstract
 1. Introduction
 2. Definition of LED Life and Testing Standards
 3. LED Light Attenuation Mechanism
 4. LED Life Testing Model
 5. LED Life Accelerated Test Platform
 6. Conclusion
 References

키워드

LED luminous flux light fades life test

저자

  • Hong-min Wang [ Collage of Automation Harbin University of Science and Technology, Harbin, China, 150080 ]
  • Jin-shan Yao [ Collage of Automation Harbin University of Science and Technology, Harbin, China, 150080 ] Corresponding Author
  • Pin Xue [ Collage of Automation Harbin University of Science and Technology, Harbin, China, 150080 ]

참고문헌

자료제공 : 네이버학술정보

간행물 정보

발행기관

  • 발행기관명
    보안공학연구지원센터(IJSH) [Science & Engineering Research Support Center, Republic of Korea(IJSH)]
  • 설립연도
    2006
  • 분야
    공학>컴퓨터학
  • 소개
    1. 보안공학에 대한 각종 조사 및 연구 2. 보안공학에 대한 응용기술 연구 및 발표 3. 보안공학에 관한 각종 학술 발표회 및 전시회 개최 4. 보안공학 기술의 상호 협조 및 정보교환 5. 보안공학에 관한 표준화 사업 및 규격의 제정 6. 보안공학에 관한 산학연 협동의 증진 7. 국제적 학술 교류 및 기술 협력 8. 보안공학에 관한 논문지 발간 9. 기타 본 회 목적 달성에 필요한 사업

간행물

  • 간행물명
    International Journal of Smart Home
  • 간기
    격월간
  • pISSN
    1975-4094
  • 수록기간
    2008~2016
  • 십진분류
    KDC 505 DDC 605

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