The main concern is over rising temperature during the testing of complex system-on-chip (SOC), this paper studies SOC wrapper and test access mechanism (TAM), and proposes an improved algorithm of TAM assignment under the constraints of temperature. The algorithm uses temperature superposition method and adds compression process. This algorithm can find the test structure that uses shorter test time.
목차
Abstract 1. Introduction 2. Test Case and Test Access Mechanism for Joint Design Algorithm 3. TAM Bus Allocation Algorithm 4. Simulation Results and Analysis 5. Conclusion References
키워드
TAMthermal constrainttemperature superposition methodcompression process
저자
Xiaomin Li [ Department of Electronic Engineering, Navy University of Engineering, Wuhan 430033, China ]
Shuanghua Huang [ Department of Electronic Engineering, Navy University of Engineering, Wuhan 430033, China ]
보안공학연구지원센터(IJHIT) [Science & Engineering Research Support Center, Republic of Korea(IJHIT)]
설립연도
2006
분야
공학>컴퓨터학
소개
1. 보안공학에 대한 각종 조사 및 연구
2. 보안공학에 대한 응용기술 연구 및 발표
3. 보안공학에 관한 각종 학술 발표회 및 전시회 개최
4. 보안공학 기술의 상호 협조 및 정보교환
5. 보안공학에 관한 표준화 사업 및 규격의 제정
6. 보안공학에 관한 산학연 협동의 증진
7. 국제적 학술 교류 및 기술 협력
8. 보안공학에 관한 논문지 발간
9. 기타 본 회 목적 달성에 필요한 사업
간행물
간행물명
International Journal of Hybrid Information Technology
간기
격월간
pISSN
1738-9968
수록기간
2008~2016
십진분류
KDC 505DDC 605
이 권호 내 다른 논문 / International Journal of Hybrid Information Technology Vol.8 No.8