Earticle

현재 위치 Home

Security Vulnerabilities Tests Generation from SysML and Event-B Models for EMV Cards

첫 페이지 보기
  • 발행기관
    보안공학연구지원센터(IJSIA) 바로가기
  • 간행물
    International Journal of Security and Its Applications SCOPUS 바로가기
  • 통권
    Vol.8 No.1 (2014.01)바로가기
  • 페이지
    pp.373-388
  • 저자
    Noura Ouerdi, Mostafa Azizi, M’Hammed Ziane, Abdelmalek Azizi, Jean-louis Lanet, Aymerick Savary
  • 언어
    영어(ENG)
  • URL
    https://www.earticle.net/Article/A218118

※ 원문제공기관과의 협약기간이 종료되어 열람이 제한될 수 있습니다.

원문정보

초록

영어
The Model Based Testing (MBT) is an original approach where test cases are automatically generated from the specifications of the system under tests. These specifications take the form of a behavioral model allowing the test generator to determine, on the one hand, the possible and relevant execution contexts. On the other hand, to predict the effects of these executions on the system. This paper proposes new methodology to generate vulnerability test cases based on SysML model of Europay-Mastercard and Visa (EMV) specifications. Our main aim is to ensure that not only the features described by the EMV specifications are met, but also that there is no vulnerability in the system. To meet these two objectives, we automatically generated concrete tests basing on SysML models. Indeed, this paper highlights the importance of modeling EMV specifications. We opted for the choice of SysML modeling language due to its ability to model Embedded Systems through several types of diagrams. In our work we used state machine diagram to generate vulnerability test cases for a secure and robust system.

목차

Abstract
 1. Introduction
 2. State of the Art
  2.1. Model-Based Testing
  2.2. Limitations
 3. Application Domain: The EMV Infrastructure
  3.1. APDU Command
  3.2. EMV Transaction
 4. Tools and Method
 5. Our new Methodology of vulnerabilities detection
  5.1. Practical vulnerabilities of EMV Cards
  5.2. Our New Methodology
 6. Results and Discussions
  6.1. Modeling EMV Transaction using Machine State Diagram
  6.2. Generation of Event-B Model
  6.3. Validation of Event-B model
  6.4. Generation of Abstract Tests
  6.5. Our Automatic Vulnerability Tests Generator
  6.6. Synthesis
 7. Conclusion
 References

키워드

EMV Model-Based Testing Event-B SysML Smart card Vulnerability

저자

  • Noura Ouerdi [ Department Mathematical and Computer, Lab. ACSA, Faculty of Sciences, Mohammed First University, Oujda 60000, Morocco ]
  • Mostafa Azizi [ Department Computer, Lab. MATSI, ESTO, Mohammed First University, Oujda 60000, Morocco ]
  • M’Hammed Ziane [ Department Mathematical and Computer, Lab. ACSA, Faculty of Sciences, Mohammed First University, Oujda 60000, Morocco ]
  • Abdelmalek Azizi [ Department Mathematical and Computer, Lab. ACSA, Faculty of Sciences, Mohammed First University, Oujda 60000, Morocco ]
  • Jean-louis Lanet [ XLIM/DMI/SSD,87 street of Isles, 87000 Limoges, France ]
  • Aymerick Savary [ GRIL, IT department, Sherbrook University, Quebec, Canada ]

참고문헌

자료제공 : 네이버학술정보

간행물 정보

발행기관

  • 발행기관명
    보안공학연구지원센터(IJSIA) [Science & Engineering Research Support Center, Republic of Korea(IJSIA)]
  • 설립연도
    2006
  • 분야
    공학>컴퓨터학
  • 소개
    1. 보안공학에 대한 각종 조사 및 연구 2. 보안공학에 대한 응용기술 연구 및 발표 3. 보안공학에 관한 각종 학술 발표회 및 전시회 개최 4. 보안공학 기술의 상호 협조 및 정보교환 5. 보안공학에 관한 표준화 사업 및 규격의 제정 6. 보안공학에 관한 산학연 협동의 증진 7. 국제적 학술 교류 및 기술 협력 8. 보안공학에 관한 논문지 발간 9. 기타 본 회 목적 달성에 필요한 사업

간행물

  • 간행물명
    International Journal of Security and Its Applications
  • 간기
    격월간
  • pISSN
    1738-9976
  • 수록기간
    2008~2016
  • 등재여부
    SCOPUS
  • 십진분류
    KDC 505 DDC 605

이 권호 내 다른 논문 / International Journal of Security and Its Applications Vol.8 No.1

    피인용수 : 0(자료제공 : 네이버학술정보)

    함께 이용한 논문 이 논문을 다운로드한 분들이 이용한 다른 논문입니다.

      페이지 저장