Defect probabilities in embedded memories have been increased by the scaling reduction in advanced VLSI technology. Built-In Self Repair (BIRA) circuit design is a solution to improve the yield drop and get to a high reliability. This paper will present an at-speed optimal algorithm to repair Word-Oriented memories. In spite of parallel structure in our analyzer to get high analysis speed, the area consumption of the circuit has decreased considerably due to the optimal algorithm. The repair rate of the proposed method is also 100% because of applying the binary search three as its foundation. Simulation results and comparison with other methods show the efficiency of the Wordy-R-CRESTA analyzer method.
목차
Abstract 1. Introduction 2. Previous BIRA Methods 3. The Proposed BIRA for Repairing WOMs 4. Experimental Results 5. Conclusion References
보안공학연구지원센터(IJHIT) [Science & Engineering Research Support Center, Republic of Korea(IJHIT)]
설립연도
2006
분야
공학>컴퓨터학
소개
1. 보안공학에 대한 각종 조사 및 연구
2. 보안공학에 대한 응용기술 연구 및 발표
3. 보안공학에 관한 각종 학술 발표회 및 전시회 개최
4. 보안공학 기술의 상호 협조 및 정보교환
5. 보안공학에 관한 표준화 사업 및 규격의 제정
6. 보안공학에 관한 산학연 협동의 증진
7. 국제적 학술 교류 및 기술 협력
8. 보안공학에 관한 논문지 발간
9. 기타 본 회 목적 달성에 필요한 사업
간행물
간행물명
International Journal of Hybrid Information Technology
간기
격월간
pISSN
1738-9968
수록기간
2008~2016
십진분류
KDC 505DDC 605
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