Fayu Wan, Qi Liu, Jian Shen, Jin Wang, Nigel Linge
언어
영어(ENG)
URL
https://www.earticle.net/Article/A214500
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원문정보
초록
영어
This paper utilizes a 0 Ohm substitution current probe to measure the emission on the power network of an integrated circuit (IC). The measurement result shows that current probe works up to 1GHz, and the short time FFT (STFFT) method is used to identify the emission source. All the wideband emissions are from DC/DC converter, and no narrowband emissions are found. The measurement method gives great convenience to measure the current emission on printed circuit board (PCB) trace.
목차
Abstract 1. Introduction 2. Simulation Method to get the Mutual Inductance of the Probe 3. Mathematics Method to Obtain the Mutual Inductance of the Probe 3.1. Calculated and Measurement Results Comparison 4. Conducted Emission Measurement using Spectrum Analyzer 5. STFFT[11-12] 6. Current on Power Supply 7. Conclusions Acknowledgments References
보안공학연구지원센터(IJSIP) [Science & Engineering Research Support Center, Republic of Korea(IJSIP)]
설립연도
2006
분야
공학>컴퓨터학
소개
1. 보안공학에 대한 각종 조사 및 연구
2. 보안공학에 대한 응용기술 연구 및 발표
3. 보안공학에 관한 각종 학술 발표회 및 전시회 개최
4. 보안공학 기술의 상호 협조 및 정보교환
5. 보안공학에 관한 표준화 사업 및 규격의 제정
6. 보안공학에 관한 산학연 협동의 증진
7. 국제적 학술 교류 및 기술 협력
8. 보안공학에 관한 논문지 발간
9. 기타 본 회 목적 달성에 필요한 사업
간행물
간행물명
International Journal of Signal Processing, Image Processing and Pattern Recognition
간기
격월간
pISSN
2005-4254
수록기간
2008~2016
십진분류
KDC 505DDC 605
이 권호 내 다른 논문 / International Journal of Signal Processing, Image Processing and Pattern Recognition Vol.7 No.1