NAND-based storage devices deploy the flash translation layer (FTL) in order to emulate the block device characteristics because NAND flash memory does not support the overwrite operation. The FTL schemes that use log blocks such as the BAST and the FAST scheme are adequate for the devices with harsh memory. This paper presents the log block replacement scheme to improve the performance of the FAST FTL scheme. The presented scheme considers the number of valid pages of the candidate log block when selecting the victim log block, because the cost of the garbage collection decreases as the number of valid pages in the victim log block is less. The presented scheme gives the second chance to the candidate log block if its valid pages are more than the threshold. The simulation shows that the presented scheme improves the performance of the FAST scheme up to 5.0 %. The improvement is more conspicuous as more NAND blocks are used as log blocks.
목차
Abstract 1. Introduction 2. Related Work 3. Second Chance Replacement Scheme Considering the Garbage Collection Cost 4. Performance Evaluation 5. Conclusion Acknowledgements References
보안공학연구지원센터(IJMUE) [Science & Engineering Research Support Center, Republic of Korea(IJMUE)]
설립연도
2006
분야
공학>컴퓨터학
소개
1. 보안공학에 대한 각종 조사 및 연구
2. 보안공학에 대한 응용기술 연구 및 발표
3. 보안공학에 관한 각종 학술 발표회 및 전시회 개최
4. 보안공학 기술의 상호 협조 및 정보교환
5. 보안공학에 관한 표준화 사업 및 규격의 제정
6. 보안공학에 관한 산학연 협동의 증진
7. 국제적 학술 교류 및 기술 협력
8. 보안공학에 관한 논문지 발간
9. 기타 본 회 목적 달성에 필요한 사업
간행물
간행물명
International Journal of Multimedia and Ubiquitous Engineering
간기
월간
pISSN
1975-0080
수록기간
2008~2016
등재여부
SCOPUS
십진분류
KDC 505DDC 605
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