To application Arrhenius model for OLED's lifetime, it's needed in high temperature test. Because OLED's character is changed in high temperature, it's important to find limit temperature. We found out 40℃ is proper temperature by result of tests. But that is not enough acceleration to apply in practical affairs. We find new stress to get a bigger accelerated constant.
목차
Abstract 1. 서론 2. 가속수명시험 이론 2.1. 가속수명 시험의 종류 2.2. Accelerated Degradation 2.3. 가속수명-스트레스 모형 2.4. 가속성과 가속계수 3. OLED 소자의 열화 스트레스 3.1. Lifetime 3.2. degradation 3.3. 가속스트레스 발굴 4. 실험 및 결과 5. 수명 예측 및 가속모형 추정 6. 결론 및 과제 7. 참고문헌