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Improving Analysis Accuracy In Integrated Circuit Design Using Cubic Bézier Curves And Patches

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  • 발행기관
    보안공학연구지원센터(IJUNESST) 바로가기
  • 간행물
    International Journal of u- and e- Service, Science and Technology 바로가기
  • 통권
    vol.4 no.1 (2011.03)바로가기
  • 페이지
    pp.1-8
  • 저자
    Eric Y. Chen, May Huang
  • 언어
    영어(ENG)
  • URL
    https://www.earticle.net/Article/A148525

※ 원문제공기관과의 협약기간이 종료되어 열람이 제한될 수 있습니다.

원문정보

초록

영어
In this paper, we introduce a method for the application of Bézier curve algorithms to lookup-table-based interpolations, particularly for the use of timing, power, and noise analysis in integrated circuit design. Bézier curves can replace conventional piecewise linear functions for accuracy enhancement. Selecting control points with physical implications and forcing curves to pass through sampled points are critical for achieving the envisioned improvements. This method can be easily applied to the interpolation of splines.

목차

Abstract
 1. Introduction
 2. Nonlinear Fitting Curves
  2.1. B-Splines
  2.2. Bézier Curves
 3. Improving Accuracy on 2D Lookup tables
  3.1. Determining Control Points
  3.2. Approximating Derivatives at Sampled Points
  3.3. Evaluating Points on the Curve
 4. Improving Accuracy In 3D Lookup Tables
  4.1 Rectangular Patches with Tensor Product
  4.2 Triangular Patches
 5. Results From Experiments
 References

키워드

Lookup Table Bézier curve Data Interpolation

저자

  • Eric Y. Chen [ Google Inc. ]
  • May Huang [ Dept. of Electrical Engineering International Technology University ]

참고문헌

자료제공 : 네이버학술정보

간행물 정보

발행기관

  • 발행기관명
    보안공학연구지원센터(IJUNESST) [Science & Engineering Research Support Center, Republic of Korea(IJUNESST)]
  • 설립연도
    2006
  • 분야
    공학>컴퓨터학
  • 소개
    1. 보안공학에 대한 각종 조사 및 연구 2. 보안공학에 대한 응용기술 연구 및 발표 3. 보안공학에 관한 각종 학술 발표회 및 전시회 개최 4. 보안공학 기술의 상호 협조 및 정보교환 5. 보안공학에 관한 표준화 사업 및 규격의 제정 6. 보안공학에 관한 산학연 협동의 증진 7. 국제적 학술 교류 및 기술 협력 8. 보안공학에 관한 논문지 발간 9. 기타 본 회 목적 달성에 필요한 사업

간행물

  • 간행물명
    International Journal of u- and e- Service, Science and Technology
  • 간기
    격월간
  • pISSN
    2005-4246
  • 수록기간
    2008~2016
  • 십진분류
    KDC 505 DDC 605

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