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전자부품의 정전파괴(ESD) 분석에 관한 연구
A Study on Analysis of Electrostatics Destruction of Electronic Equipm

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  • 발행기관
    국제인공지능학회(구 한국인터넷방송통신학회) 바로가기
  • 간행물
    한국인터넷방송통신학회 논문지 KCI 등재 바로가기
  • 통권
    제10권 제6호 (2010.12)바로가기
  • 페이지
    pp.235-241
  • 저자
    이두용
  • 언어
    한국어(KOR)
  • URL
    https://www.earticle.net/Article/A134067

※ 원문제공기관과의 협약기간이 종료되어 열람이 제한될 수 있습니다.

원문정보

초록

영어
The static electricity generated by friction of two objects is called frictional electricity. The main cause of troubles in electronic components for military and civil use as well as in military radar appliances is found mostly in parts like LSI memories, particularly when they lose information of function momentarily while in operation, which usually leads to a fatal cause of troubles in the equipment. Troubles occur if electric noise is caused by the spark effected from discharge of static electricity from the equipment that is used nearby.
한국어
정전기 발생에서 가장 직접적이고 주요인자는 주변 습도 상태이다. 대부분의 정전기 발생은 마찰에 의해 발생되는 마찰전기이며, 공기 중에 포함된 수분의 양에 따라 물체 주위에 하나의 얇은 전도 층을 형성하게 되어 발생하는 정전기 충전 전압을 물체 표면 전체에 흩어지게 하는 함수 역할을 하게 된다. 정전기 방전 현상은 순간적인 전압상승을 야기하며 경우에 따라서는 아주 치명적인 손상을 입히게 된다. 무기체계의 조립, 취급, 수송, 저장의 과정에서 쉽게 나타날 수 있는 정전기 방전 현상을 미연에 방지하기 위한 방법을 설계 하고 분석 한다. 이러한 방법은 각종 무기체계 개발 관련자들의 정전기 방전 보호를 위한 설계 지침을 제시하며, 정전기에 대한 대책을 수립할 수 있도록 규정과 지원을 해 줄 수 있다.

목차

요약
 Abstract
 I. 서론
  1. 치명적 고장
  2. 치명적인 고장 메카니즘
  3. 열 영향에 의한 2차 파괴
 II. 전자부품의 정전파괴 (ESD)
  1. 정전파괴 (ESD) 감수성
  2. 정전파괴 감수성 영향
 III. 분석 환경
 IV. 분석 결과
  1. 대전체 정전기 발생과 세척
  2. 전자부품, 조랍품, 장비의 감수성
 V. 결론
 참고문헌

키워드

Electrostatics destruction Capacitive Impedance LSI memories

저자

  • 이두용 [ Du-Young Lee | 호원대학교 ]

참고문헌

자료제공 : 네이버학술정보

간행물 정보

발행기관

  • 발행기관명
    국제인공지능학회(구 한국인터넷방송통신학회) [The International Association for Artificial Intelligence]
  • 설립연도
    2000
  • 분야
    공학>전자/정보통신공학
  • 소개
    인터넷방송, 인터넷 TV , 방송 통신 네트워크 및 관련 분야에 대한 국내는 물론 국제적인 학술, 기술의 진흥발전에 공헌하고 지식 정보화 사회에 기여하고자 한다.

간행물

  • 간행물명
    한국인터넷방송통신학회 논문지 [The Journal of the Institute of Internet, Broadcasting and Communication]
  • 간기
    격월간
  • pISSN
    2289-0238
  • eISSN
    2289-0246
  • 수록기간
    2001~2025
  • 십진분류
    KDC 326 DDC 380

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