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초록

한국어

디스플레이 제조 공정에서는 패널의 이송 목적으로 컨베이어 시스템이 널리 사용된다. 이 컨베이어에는 정전기로 인한 제품 불량을 예방하기 위해 접지선이 다수 사용되는데, 이송 롤러의 회전 운동이나 말림 등의 원인으로 접지선이 단선되어 제품 불량으로 이어지는 경우가 빈번히 발생된다. 이런 문제 해결을 위해 접지선의 단선을 실시간으로 검출 가능한 시스템의 필요성이 커지고 있다. 따라서 본 논문에서는 컨베이어 구동부와 패널의 마찰로 발생되는 ESD(Electro-Static Discharge) 접지선의 단선 모니터링 시스템을 제안한다. 제안 시스템은 ATmega 2560 및 휘트스톤 브릿지(Wheatstone Bridge) 회로를 이용해 접지선의 단선 및 탈조 검출이 가능한 모니터링 시스템으로써, 접지선의 단선을 즉시 검출해 조치할 수 있으므로, 정전기로 인한 제품의 불량률을 줄일 수 있다. 본 논문에서 제안한 시스템은 접지선이 사용되는 산업의 생산 및 시험 장비에 적용 가능할 것으로 기대된다.

영어

In the splay manufacturing process, conveyor systems are widely used for conveying panels. In this conveyor, a large number of grounding lines are used in order to prevent a product failure due to static electricity. In many cases, the grounding line is disconnected due to the rotation of the transporting roller or curling, leading to product failure. In order to solve such a problem, there is a growing need for a system capable of detecting disconnection of a ground wire in real time. Therefore, in this paper, we propose a disconnection monitoring system of ESD (Electro-Static Discharge) ground wire caused by friction between the conveyor drive part and the panel. The proposed system is a monitoring system that can detect disconnection and disconnection of ground wire using ATmega 2560 and Wheatstone Bridge circuit. It can detect disconnection of ground wire immediately and can take measures to reduce the defect rate due to static electricity. The system proposed in this paper is expected to be applicable to the production and test equipments of all industries where the ground wire is used.

목차

요약
 Abstract
 1. 서론
 2. 관련 연구
  2.1 정전기 원인 및 접지의 필요성
  2.2 ATmega 2560
  2.3 머레이(Murray) 루프법
 3. ESD 접지 단선 모니터링 시스템 구현
  3.1 ESD 접지 단선 모니터링 시스템 구성
  3.2 ESD 접지 단선 모니터링 시스템 알고리즘
 4. ESD 접지 단선 모니터링 시스템 검증 및 평가
  4.1 ESD 접지 단선 모니터링 시스템 검증
  4.2 정상 접지선 측정 신뢰성 검증
  4.3 단선 접지선 측정 신뢰성 검증
 5. 결론 및 향후 연구방향
 REFERENCES

저자

• 성정모 [ Jung-Mo Seong | 공주대학교 컴퓨터공학과 ]
• 정영석 [ Young-Suk Chung | 공주대학교 컴퓨터공학과 ]
• 박구락 [ Koo-Rack Park | 공주대학교 컴퓨터공학과 ] Corresponding author

참고문헌